產(chǎn)品時間:2024-07-08
貝克休斯BakerHughes德國KK美國GE SEB2探頭/SEB2-E軟膜直探頭/縱波單晶探頭/超聲波探頭/SEB2-EN超聲波探傷儀探頭,頻率:2MHZ,焦距:15mm。用于探測棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷,經(jīng)常用作在中等和大尺寸物體(如鍛造或鑄造的物體)中關(guān)鍵部位小缺陷的探測(如氣孔、微孔和熱裂縫)。更適用于平行物體表面的缺陷定位(如層狀結(jié)構(gòu)缺陷、渣孔以及厚鋼板中的分隔線)。
貝克休斯BakerHughes德國KK美國GE SEB2探頭
探頭選擇準(zhǔn)則與性能說明:
直探頭---雙晶
• 接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
• 缺陷或背反射平行于表面,可被垂 直于表面的聲束探測
• 近表面分辨率好,用于較薄部件
• 需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
• 通常用于手動檢測
特性
獨立的聲波發(fā)射和接收單元
縱波垂直傳輸
小焦距探頭具有非常好的近場分辨率
使用耐磨的塑料延遲塊,即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性
延遲塊由一個金屬環(huán)保護以防磨損
在焦點內(nèi)特別適合剩余壁厚的測量
加上延遲塊(定制產(chǎn)品)能夠在高溫表面測量
應(yīng)用
近表面的小缺陷探測和評估
焦點內(nèi)大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測
腐蝕、銹蝕剩余壁厚的測量(包括高溫情況下測量)
粘結(jié)檢測
螺釘,螺栓,銷釘
覆層和堆焊層
軸,桿,方坯芯檢測
粗晶材料
火車車輪
探頭選擇準(zhǔn)則—歐洲規(guī)格
按照歐洲標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)的探頭, 本目錄提供的技術(shù)性能信息依照下表定義。 絕大多數(shù)的探傷儀探頭都免費提供性能數(shù)據(jù)表。
性能參數(shù) | 解釋 |
晶片尺寸 D 或 a ×b | 探頭晶片的直徑D或長度×寬度a ×b 。它的尺寸大小對聲波的傳輸有極大的影響 。輕微的偏差,如形狀的偏差,或粘接不良造成的位置偏差而產(chǎn)生的聲能衰減,即使是利用參考缺陷進行標(biāo)定,都將產(chǎn)生嚴(yán)重的評估誤差。 |
標(biāo)稱頻率f | 所有相同類型探頭的均值頻率,頻率對反射體的評定有大的影響 。對斜反射體,頻率甚至影響聲場 波形和反射特性 。隨著頻率的增加,非垂直反射體對聲束的反射回波減小 。這就是為什么每一個探頭都要由我們的質(zhì)量控制部門根據(jù)鑒定標(biāo)準(zhǔn)進行嚴(yán)格檢測,以確定其頻率是否與標(biāo)稱頻率相一致,保證在一定的誤差范圍內(nèi)。這個數(shù)據(jù)輸入到探頭的數(shù)據(jù)參數(shù)表。 |
帶寬B | 脈沖回波的幅值比最高幅值下降6dB之間的頻率范圍。 fo=幅值下降6dB的上限頻率,fu=幅值下降6dB的下限頻率,f為標(biāo)稱頻率。 例如,當(dāng)B=100%, 一個4 MHz的探頭的fo為6 MHz,而fu為2 MHz。 大的帶寬意味著更短的脈沖回波,也就意味著高的分辨率和更好的穿透能力, 因為低頻脈沖比標(biāo)稱頻 率脈沖的衰減小 。在高衰減情形下,與標(biāo)稱頻率相比,隨著距離的增加,反射信號的頻率減小 。這一 點在進行缺陷評估時必須要加以考慮 。因此每一個探頭的帶寬都要進行檢查,并且與所有探頭的平均值相一致,保證在一定的誤差范圍內(nèi)。 |
焦距F | F :小缺陷產(chǎn)生蕞大回波時探頭到小缺陷的距離。探頭要進行聚焦以便探測小缺陷并得到蕞大的回波幅值,只有在探頭的近場才可能聚焦。 |
近場長度N | 近場長度N是非聚焦探頭的焦距長度,它是聲軸線上能得到聲壓ji大值的最遠(yuǎn)距離 。N的大小由D 、c 和f來決定 。 其中λ為波長,c為聲速, Deff是單元有效直徑 焦點處和近場長度處聲能最為集中,反射體最易識別。因此重要測試場合一般預(yù)期缺陷在焦距或近場長度處。表中的數(shù)據(jù)對鋼材而言,而水浸探頭為水。 |
焦點直徑FD6 | 在焦距或近場長度附近,聲壓值比主聲軸下降6dB處到主聲軸的距離 。 |
脈沖形狀 | 來自于平面反射面的信號表述。 |
頻譜 | 回波脈沖中所有頻率的顯示,頻率幅值在頻率上顯示。 |
聲束角度 β | 主聲束與檢測面法線之間的夾角 |
貝克休斯BakerHughes德國KK美國GE SEB2探頭
相關(guān)產(chǎn)品