Olympus奧林巴斯45MG雙晶單晶高溫涂層壁厚超聲波測厚儀

應(yīng)用

檢測管道中的內(nèi)壁減少情況。

背景

局部墻壁減少并不總是由腐蝕引起。在板材軋制期間或在管材制造過程中形成的初始階段可以產(chǎn)生壁減少。鋼中的印模可以通過成形輥產(chǎn)生。施加到成形輥的高表面壓力和熱量會引起剝落。剝落并從輥子上脫離的金屬片可落入進入板的路徑中，使得片件粘合到輥子上。一旦碎片與輥子結(jié)合，就會在被軋制的板材中開始出現(xiàn)印痕。因此，由輥引起的印模的術(shù)語偽影看起來類似于由腐蝕引起的壁減少。

在許多情況下，新管道將投入使用此類工件。當管道運行后再進行腐蝕檢查時，檢查人員可能會發(fā)現(xiàn)這些墻壁減少偽影并將其誤認為是腐蝕單元。如果發(fā)生這種情況，工藝工程師可能會推斷出不正確的腐蝕速率并導致不正確的工藝變化和/或化學添加 然而，簡單的超聲測量程序可以在制造或安裝階段識別偽影。

設(shè)備

型號38DLP PLUS厚度計，或帶波形顯示選件的45MG型應(yīng)變計，以及D790雙元件傳感器（5 MHz）。

例

下圖中的管道是采用ERW工藝制造的8“x .250"壁碳鋼1018等級。深色凹痕是減少在管道形成過程中發(fā)生的壁厚的偽影。ID或OD上沒有腐蝕。

厚度測量以與腐蝕測量相同的方式進行。在左圖中，量具讀取全壁厚度。在右圖中，較薄的讀數(shù)表示內(nèi)表面上的壁變薄偽影。

在試圖區(qū)分制造工件和腐蝕電池時，檢查員可能會考慮以下因素：

• 確定管道是ERW還是無縫管道。

• 確定墻體減少的方向是軸線而不是隨機。

• 如果管道回路中的多個或所有接頭都是ERW，請確定每個接頭上的工件所在的線。檢查員可能會發(fā)現(xiàn)線路相對于管道改變方位角位置。

• 如果發(fā)現(xiàn)電路中的管道連接是無縫的并且沒有墻壁減少。

結(jié)論

可以通過超聲波厚度測量來檢測管道中的制造偽影。執(zhí)行管道厚度測量的檢查員應(yīng)了解這種損壞機制。向過程工廠質(zhì)量控制檢查員通知該潛在問題以避免過高估計腐蝕速率也很重要。

45MG雙晶單晶高溫涂層壁厚超聲波測厚儀

手持式45MG是一款配置有各種測量功能和軟件選項的超聲測厚儀。這款儀器與所有奧林巴斯雙晶和單晶探頭探頭兼容。

38DL PLUS

38DL PLUS是一款高級超聲測厚儀。這款儀器可使用雙晶探頭對內(nèi)部腐蝕的部件進行檢測。其性能包含THRU-COAT®（穿透涂層）和回波到回波。還可以使用單晶探頭對薄材料、極厚材料以及多層材料進行的厚度測量。

標準配置

• 45MG數(shù)字式超聲測厚儀

• AA堿性電池

• 2階試塊和耦合劑

• USB線纜

• 用戶手冊，存于CD盤上

• 測量功能：最小值/最大值模式、兩個報警模式、差值模式、B掃描、縮減率、可編程的鎖定功能

軟件選項

• 45MG-SE (U8147022)：單晶選項，使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭

• 45MG-HP (U8147023)：單晶高穿透選項，使用頻率范圍為0.5 MHz～30 MHz的單晶探頭

• 45MG-EETC (U8147021)：回波到回波和穿透涂層

• 45MG-WF (U8147019)：波形選項

• 45MG-DL (U8147020)：內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器，包含GageView接口程序

選購附件

• MICROSSD-ADP-2GB (U8779307)： 2 GB外置microSD存儲卡

• 45MG-RPC (U8779676)： 帶支架的橡膠保護套

回波到回波/穿透涂層選項

回波到回波

測厚儀使用多個底面回波，顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度：

• 自動回波到回波

• 手動回波到回波（僅出現(xiàn)于A掃描選項），可進行以下操作：  

• 增益調(diào)整

• 擴展空白

• 回波空白

穿透涂層技術(shù)

顯示A掃描的自動回波到回波模式

顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式（波形選項未被激活）

調(diào)整*個回波空白的手動回波到回波模式

顯示可選波形的穿透涂層模式

單晶軟件選項

用戶使用單晶軟件選項，可以完成分辨率高達0.001毫米或0.0001英寸的厚度測量。可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。

• 大多數(shù)薄材料和厚材料

• 壁厚薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道及薄片材料

• 壁厚薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼圈板、機加工部件

• 汽缸孔、渦輪葉片

• 玻璃燈泡、瓶子

• 薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復合材料

• 曲面部分或內(nèi)圓角半徑較小的容器

單晶高穿透軟件選項

用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。這個選項包含單晶選項。

• 大多數(shù)較厚或聲音衰減性較強的材料

• 厚鑄造金屬部件

• 厚橡膠輪胎、履帶

• 玻璃纖維船體、儲存罐

• 復合材料板

• 對于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭，分辨率為0.01毫米（0.001英寸）

可選數(shù)據(jù)記錄器和PC機接口

45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)記錄器選項包含GageView接口程序。

數(shù)據(jù)記錄器選項

• 內(nèi)置存儲容量為475000個厚度讀數(shù)，或20000個帶有厚度讀數(shù)的波形。

• 32位字符的文件名稱

• 20位字符的ID#（TML#）編碼

• 6個文件格式：遞增型、序列型、帶自定義點的序列型、兩維柵格、鍋爐型及通過GageView在PC機上手動創(chuàng)建的文件格式

• 內(nèi)置microSD存儲卡和可插拔microSD存儲卡

• 可以在內(nèi)置和可插拔microSD存儲卡之間拷貝文件

• 標準型USB通訊

• 單晶探頭設(shè)置的雙向傳輸

• 機載統(tǒng)計報告

• 機載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色

• GageView接口程序可與45MG儀器通訊，方法是：  

• 通過USB端口

• 讀取microSD存儲卡上的數(shù)據(jù)，或在存儲卡上寫入信息

• 可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號分隔值）格式或.txt格式，直接導出到microSD存儲卡

在PC機上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過不同顏色清晰地標明超出容差的厚度情況。

可以方便地生成并打印包含測量值、ID編碼及其它參數(shù)的測量報告。

機載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色

GageView接口程序

• 包含在數(shù)據(jù)記錄器選項中

• 基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來自45MG測厚儀的數(shù)據(jù)

• 創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)

• 編輯所存數(shù)據(jù)

• 顯示數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)文件。文件包含厚度讀數(shù)、測厚儀設(shè)置值及探頭設(shè)置值

• 從測厚儀上下載厚度測量總結(jié)，或上傳厚度測量總結(jié)至測厚儀

• 將測量總結(jié)導出到電子表格及其它程序

• 收集捕獲的屏幕

• 打印有關(guān)厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計及彩色柵格的報告

• 升級45MG軟件

• 下載和上傳單晶探頭設(shè)置文件

在PC機上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過不同顏色清晰地標明超出容差的厚度情況。

帶有波形調(diào)整功能的實時A掃描

用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設(shè)置進行手動調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中最大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調(diào)整、擴展空白、個回波空白、范圍及延遲參數(shù)。