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奧林巴斯38DL Plus超聲波測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

  • 發(fā)布日期:2018-10-13      瀏覽次數(shù):1920
    • 奧林巴斯38DL Plus超聲波測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

       

      38DL PLUS超聲波測(cè)厚儀測(cè)量原理:

      超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭通過(guò)測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。

       

       

      主要特性

      • 可與雙晶和單晶探頭兼容。 
      • 寬泛的厚度范圍:0.08毫米~635毫米,根據(jù)材料和所選探頭而定。 
      • 使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測(cè)厚。 
      • 穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能,用于測(cè)量表面帶有漆層和涂層的材料。 
      • 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項(xiàng)。 
      • 對(duì)于所有探頭,標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。 
      • 使用頻率范圍為2.25 MHz~30 MHz的單晶探頭,高分辨率軟件選項(xiàng)可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測(cè)量。 
      • 多層軟件選項(xiàng)可對(duì)多達(dá)4個(gè)不同層同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。 

       

       38DL Plus超聲波測(cè)厚儀38DL PLUS主要應(yīng)用是:測(cè)量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中常使用的是雙晶探頭。

      主要特點(diǎn):

       可與雙晶和單晶探頭兼容。 

       寬泛的厚度范圍:0.08毫米~635毫米,根據(jù)材料和所選探頭而定。 

       使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測(cè)厚。 

       穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能,用于測(cè)量表面帶有漆層和涂層的材料。 

       內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項(xiàng)。 

       對(duì)于所有探頭,標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。 

       使用頻率范圍2.25 MHz30 MHz的單晶探頭,高分辨率軟件選項(xiàng)可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測(cè)量

       多層軟件選項(xiàng)可對(duì)多達(dá)4個(gè)不同層同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。 

       高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。 

       厚度、聲速和渡越時(shí)間測(cè)量。 

       差分模式和縮減率模式。 

       時(shí)基B掃描模式;每次掃查可獲得10000個(gè)可查讀數(shù)。 

       帶有數(shù)字式過(guò)濾器的Olympus高動(dòng)態(tài)增益技術(shù)。 

       用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)?/span>V聲程創(chuàng)建功能。 

       設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。 

       可用右手或左手單手操作的簡(jiǎn)潔的鍵區(qū)。 

       可直接訪問(wèn)所有功能的簡(jiǎn)便易行的操作界面。 

       內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡。 

       USBRS-232通訊端口。 

       可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形的字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器。 

       可連接計(jì)算機(jī)或顯示器的VGA輸出。 

       默認(rèn)或自定義雙晶探頭設(shè)置。 

       默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置。 

       密碼保護(hù)功能可以鎖住儀器的功能。

       

       

      優(yōu)點(diǎn):

       袖珍型,僅重0.814公斤。 

       堅(jiān)固耐用,設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。 

       爆炸性氣氛:通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測(cè)試,可在國(guó)家防火協(xié)會(huì)規(guī)范(NFPA 70500節(jié)I級(jí)2分段D組中定義的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作。 

       防撞擊測(cè)試:通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法516.5程序I中規(guī)定的測(cè)試,每軸6個(gè)循環(huán),15 g,11 msec半弦波。 

       防振動(dòng)測(cè)試:通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C6中的測(cè)試,一般暴露:每軸1小時(shí)。 

       寬泛的工作溫度范圍。 

       帶有支架的橡膠保護(hù)套。 

       彩色透反VGA顯示,帶有室內(nèi)和戶外顏色設(shè)置,具有的清晰度。 

      穿透涂層技術(shù):

      使用單個(gè)底面回波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。

      這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此,要測(cè)量金屬的厚度,不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測(cè)量技術(shù)使用D7906-SMD7906-RMD7908雙晶探頭。

      溫度補(bǔ)償:

      材料中的溫度差異會(huì)影響材料聲速和厚度測(cè)量的性。用戶使用溫度補(bǔ)償功能可以手動(dòng)輸入校準(zhǔn)試塊的溫度值和測(cè)量時(shí)的實(shí)際(高)溫度值。38DL PLUS自動(dòng)顯示經(jīng)過(guò)溫度校正的厚度值。 

      氧化層/沉積物測(cè)量(可選項(xiàng)):

      38DL PLUS使用算法測(cè)量鍋爐管件內(nèi)壁氧化層/沉積物的厚度。測(cè)厚儀同時(shí)顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預(yù)測(cè)管件的壽命。建議在此項(xiàng)應(yīng)用中使用M2017M2091探頭。

      高穿透軟件選項(xiàng) 

      用戶使用這個(gè)選項(xiàng)可在使用低頻單晶探頭(低到0.5 MHz)的情況下,測(cè)量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。

      技術(shù)指標(biāo): 

      雙晶探頭測(cè)量模式  從激勵(lì)脈沖后的延時(shí)到個(gè)回波之間的時(shí)間間隔。  

      穿透涂層測(cè)量模式 利用單個(gè)底面回波(使用D7906-SMD7908探頭),測(cè)量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度  

      穿透漆層回波到回波測(cè)量模式  在兩個(gè)連續(xù)底面回波之間的時(shí)間間隔,不計(jì)漆層或涂層的厚度。  

      單晶探頭測(cè)量模式  模式1:激勵(lì)脈沖與個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔。 

      模式2:延遲線回波與個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔(使用延遲線式或水浸式探頭)。 

      模式3:在激勵(lì)脈沖之后,位于個(gè)表面回波后的相鄰底面回波之間的時(shí)間間隔(使用延遲線式或水浸式探頭)。 

      氧化層模式:可選。 

      多層模式:可選。

       

       

       

        

      38DL Plus超聲波測(cè)厚儀38DL PLUS【原理 價(jià)格 使用方法】主要特性

      可與雙晶和單晶探頭兼容。
      寬泛的厚度范圍:0.08毫米~635毫米,根據(jù)材料和所選探頭而定。
      使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測(cè)厚。
      穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能,用于測(cè)量表面帶有漆層和涂層的材料。
      內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項(xiàng)。
      對(duì)于所有探頭,標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
      使用頻率范圍為2.25 MHz30 MHz的單晶探頭,高分辨率軟件選項(xiàng)可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測(cè)量。
      多層軟件選項(xiàng)可對(duì)多達(dá)4個(gè)不同層同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。
      高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
      厚度、聲速和渡越時(shí)間測(cè)量。
      差分模式和縮減率模式。
      時(shí)基B掃描模式;每次掃查可獲得10000個(gè)可查讀數(shù)。
      帶有數(shù)字式過(guò)濾器的Olympus高動(dòng)態(tài)增益技術(shù)。
      用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)?/span>V聲程創(chuàng)建功能。
      設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。

      38DL Plus超聲波測(cè)厚儀38DL PLUS穿透涂層技術(shù)

      奧林巴斯olympus使用單個(gè)底面回波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此,要測(cè)量金屬的厚度,不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測(cè)量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RMD7908雙晶探頭。

      奧林巴斯Olympus 38DL PLUS超聲測(cè)厚儀溫度補(bǔ)償

      材料中的溫度差異會(huì)影響材料聲速和厚度測(cè)量的性。用戶使用溫度補(bǔ)償功能可以手動(dòng)輸入校準(zhǔn)試塊的溫度值和測(cè)量時(shí)的實(shí)際(高)溫度值。奧林巴斯38DL PLUS自動(dòng)顯示經(jīng)過(guò)溫度校正的厚度值。

      38DL Plus超聲波測(cè)厚儀38DL PLUS【原理 價(jià)格 使用方法】氧化皮/沉積物測(cè)量(可選項(xiàng))

      使用算法測(cè)量鍋爐管件內(nèi)壁氧化皮/沉積物的厚度。測(cè)厚儀同時(shí)顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化皮的厚度。了解氧化皮/沉積物的厚度可以預(yù)測(cè)管件的壽命。建議在此項(xiàng)應(yīng)用中使用M2017M2091探頭。

      奧林巴斯Olympus 38DL PLUS超聲測(cè)厚儀V聲程創(chuàng)建功能

      用戶使用這項(xiàng)正等待通過(guò)的新功能可以為幾乎所有雙晶探頭創(chuàng)建一條自定義V聲程補(bǔ)償曲線。在為大多數(shù)雙晶探頭保存和調(diào)用自定義設(shè)置時(shí),這條曲線也被同時(shí)保存和調(diào)用。用戶只需校準(zhǔn)并輸入已知厚度值(小3個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn);大10個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)),儀器就會(huì)創(chuàng)建V聲程補(bǔ)償曲線。

       

       

      奧林巴斯Olympus 38DL PLUS超聲測(cè)厚儀自動(dòng)探頭識(shí)別

       

      所有標(biāo)準(zhǔn)的雙晶探頭(見(jiàn)下表)都具有自動(dòng)探頭識(shí)別功能。這個(gè)功能可以為每種不同類型的探頭自動(dòng)調(diào)用默認(rèn)V聲程校正。

      美國(guó)泛美38DL PLUS超聲測(cè)厚儀技術(shù)規(guī)格

      38DL PLUS超聲測(cè)厚儀測(cè)量; 奧林巴斯Olympus 38DL PLUS超聲測(cè)厚儀應(yīng)用介紹

      雙晶探頭測(cè)量模式

      從激勵(lì)脈沖后的延時(shí)到個(gè)回波之間的時(shí)間間隔。

      穿透涂層測(cè)量模式

      利用單個(gè)底面回波(使用D7906-SMD7908探頭),測(cè)量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度。

      穿透漆層回波到回波測(cè)量模式

      在兩個(gè)連續(xù)底面回波之間的時(shí)間間隔,不計(jì)漆層或涂層的厚度。

      單晶探頭測(cè)量模式

      模式1激勵(lì)脈沖與個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔。 
      模式2延遲線回波與個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔(使用延遲線式或水浸式探頭)。 
      模式3在激勵(lì)脈沖之后,位于個(gè)表面回波后的相鄰底面回波之間的時(shí)間間隔(使用延遲線式或水浸式探頭)。 
      氧化層模式:可選。 
      多層模式:可選。

      厚度范圍

      0.080毫米~635.00毫米,視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。

      材料聲速范圍

      0.508 mm/μs13.998 mm/μs

      分辨率(可選擇)

      低分辨率:0.1毫米 
      標(biāo)準(zhǔn)分辨率:0.01毫米 
      高分辨率(可選項(xiàng)):0.001毫米

      探頭頻率范圍

      標(biāo)準(zhǔn):2.0 MHz30 MHz-3 dB 
      高穿透(可選項(xiàng)):0.50 MHz30 MHz-3 dB

      38DL PLUS超聲測(cè)厚儀一般規(guī)格

      工作溫度范圍

      -10°C50°C

      鍵區(qū)

      密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤,帶有觸感及聲音反饋。

      機(jī)殼

      防撞擊、防水、裝有密封墊的機(jī)殼;機(jī)殼上的接口密封。設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。

      外型尺寸(寬 x x 厚)

      總體尺寸:125毫米x211毫米x46毫米

      重量

      0.814公斤

      電源

      AC/DC適配器,24 V;鋰離子電池,23.760 Wh;或4節(jié)AA輔助電池。

      鋰離子電池供電時(shí)間

      工作時(shí)間:少12.6小時(shí),一般14小時(shí),多14.7小時(shí)??焖俪潆姡?/span>2小時(shí)到3小時(shí)。

      標(biāo)準(zhǔn)

      設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。

      38DLPLUS超聲測(cè)厚儀顯示

      彩色透反VGA顯示

      液晶顯示,顯示屏尺寸:56.16毫米 X 74.88毫米

      檢波

      全波、RF波、正半波、負(fù)半波

       

      輸入/輸出

      USB

      1.0從接口。

      RS-232

      有。

      存儲(chǔ)卡

      大容量:2 GB外置MicroSD存儲(chǔ)卡。

      視頻輸出

      VGA輸出標(biāo)準(zhǔn)。

       

      內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器

      數(shù)據(jù)記錄器

      38DL PLUS通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)RS-232串口或USB端口識(shí)別、存儲(chǔ)、回放、清除、傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。

      容量

      475000個(gè)厚度測(cè)量讀數(shù),或20000個(gè)帶厚度值的波形。

      文件名稱、ID編碼及注釋

      32位字符的文件名,20位字符的字母數(shù)字位碼,每個(gè)位有四個(gè)注釋。

      文件結(jié)構(gòu)

      9個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu)。

      報(bào)告

      機(jī)載報(bào)告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、帶有位置信息的小值/大值、小值回顧、文件比較及報(bào)警報(bào)告。

       

      38DL PLUS測(cè)厚儀的一個(gè)主要應(yīng)用是測(cè)量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中常使用的是雙晶探頭。

      用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動(dòng)探頭識(shí)別功能。
      • 10個(gè)自定義雙晶探頭設(shè)置。
      校準(zhǔn)過(guò)程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認(rèn)增益。
      用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)?/span>V聲程創(chuàng)建功能。
      校準(zhǔn)過(guò)程中出現(xiàn)回波加倍時(shí)使用的校準(zhǔn)加倍功能。
      用于測(cè)量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能。
      高溫測(cè)量:溫度可高達(dá)500°C。
      鍋爐管件和內(nèi)部氧化層測(cè)量(可選項(xiàng)),使用M2017M2091單晶探頭。
      • EMAT探頭(E110-SB),用于對(duì)外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進(jìn)行不使用耦合劑的厚度測(cè)量。

      穿透涂層技術(shù)

       

      使用單個(gè)底面回波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此,要測(cè)量金屬的厚度,不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測(cè)量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RMD7908雙晶探頭。

      溫度補(bǔ)償

       

      材料中的溫度差異會(huì)影響材料聲速和厚度測(cè)量的性。用戶使用溫度補(bǔ)償功能可以手動(dòng)輸入校準(zhǔn)試塊的溫度值和測(cè)量時(shí)的實(shí)際(高)溫度值。38DL PLUS自動(dòng)顯示經(jīng)過(guò)溫度校正的厚度值。

      氧化層/沉積物測(cè)量(可選項(xiàng))

       

      38DL PLUS使用算法測(cè)量鍋爐管件內(nèi)壁氧化層/沉積物的厚度。測(cè)厚儀同時(shí)顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預(yù)測(cè)管件的壽命。建議在此項(xiàng)應(yīng)用中使用M2017M2091探頭。

      V聲程創(chuàng)建功能

      用戶使用這項(xiàng)正等待通過(guò)的新功能可以為幾乎所有雙晶探頭創(chuàng)建一條自定義V聲程補(bǔ)償曲線。在為大多數(shù)雙晶探頭保存和調(diào)用自定義設(shè)置時(shí),這條曲線也被同時(shí)保存和調(diào)用。

       

      用戶只需校準(zhǔn)并輸入已知厚度值(小3個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn);大10個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)),儀器就會(huì)創(chuàng)建V聲程補(bǔ)償曲線。

      自動(dòng)探頭識(shí)別

      所有標(biāo)準(zhǔn)的雙晶探頭都具有自動(dòng)探頭識(shí)別功能。這個(gè)功能可以為每種不同類型的探頭自動(dòng)調(diào)用默認(rèn)V聲程校正。

      對(duì)塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進(jìn)行厚度測(cè)量

       

      用戶使用單晶探頭可以測(cè)量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和接口類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項(xiàng)可以進(jìn)行分辨率為0.001毫米的極其的厚度測(cè)量。
      對(duì)于所有探頭,標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
      在使用頻率范圍為2.25 MHz30 MHz的單晶探頭的情況下,高分辨率軟件選項(xiàng)可顯示分辨率高達(dá)0.001毫米的測(cè)量值。
      高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
      多層軟件選項(xiàng)可對(duì)多達(dá)4個(gè)不同層的厚度同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。
      測(cè)量厚度、聲速或渡越時(shí)間。
      帶有默認(rèn)和自定義設(shè)置的自動(dòng)調(diào)用應(yīng)用簡(jiǎn)化了厚度測(cè)量。

      高穿透軟件選項(xiàng)

      用戶使用這個(gè)選項(xiàng)可在使用低頻單晶探頭(低到0.5 MHz)的情況下,測(cè)量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。

      多層軟件選項(xiàng)

      這個(gè)軟件選項(xiàng)計(jì)算并同時(shí)顯示多達(dá)4個(gè)不同層的厚度測(cè)量值。

       

      這個(gè)功能還可顯示所選各層的總厚度。典型的應(yīng)用包括對(duì)塑料燃料箱中的阻擋層、瓶子的預(yù)成型坯及軟性隱型眼睛進(jìn)行的厚度測(cè)量。

      38DL PLUS測(cè)厚儀的設(shè)計(jì)宗旨是滿足苛刻的應(yīng)用要求,而且可在野外和生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的惡劣條件下正常工作。無(wú)論檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)多么潮濕、有多大的塵沙、多么寒冷或多么炎熱、多么明亮或多么黑暗,38DL PLUS都可以正常進(jìn)行檢測(cè)工作。如果您需要一款防撞擊、防墜落、堅(jiān)固結(jié)實(shí)的測(cè)厚儀器,那么,符合IP67評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)、帶有橡膠保護(hù)套的38DL PLUS正是您要尋找的儀器。

      抵御惡劣環(huán)境的能力

       

      袖珍型,僅重0.814公斤。
      堅(jiān)固耐用,設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。
      爆炸性氣氛:通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測(cè)試,可在國(guó)家防火協(xié)會(huì)規(guī)范(NFPA 70500節(jié)I級(jí)2分段D組中定義的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作。
      防撞擊測(cè)試:通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法516.5程序I中規(guī)定的測(cè)試,每軸6個(gè)循環(huán),15 g11 msec半弦波。
      防振動(dòng)測(cè)試:通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C6中的測(cè)試,一般暴露:每軸1小時(shí)。
      寬泛的工作溫度范圍。
      帶有支架的橡膠保護(hù)套。
      彩色透反VGA顯示,帶有室內(nèi)和戶外顏色設(shè)置,具有的清晰度。

      簡(jiǎn)便操作的設(shè)計(jì)理念

       

      可用右手或左手單手操作的簡(jiǎn)潔的鍵區(qū)。
      可直接訪問(wèn)所有功能的簡(jiǎn)便易行的操作界面。
      內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡。
      • USBRS-232通訊端口。
      可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形的字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器。
      可連接計(jì)算機(jī)或顯示器的VGA輸出。
      默認(rèn)或自定義雙晶探頭設(shè)置。
      默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置。
      密碼保護(hù)功能可以鎖住儀器的功能。

      數(shù)據(jù)記錄器和PC機(jī)接口

      38DL PLUS測(cè)厚儀帶有一個(gè)功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器,可方便地收集和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。
      內(nèi)置存儲(chǔ)容量為475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)帶有厚度讀數(shù)的波形。
      • 32位字符的文件名稱。
      • 20位字符的ID# TML#)編碼。
      • 9個(gè)文件格式:增量型、序列型、帶自定義點(diǎn)的序列型、2-D柵格型、帶自定義點(diǎn)的2-D柵格型、3-D柵格型、3-D自定義型、鍋爐型及手動(dòng)型。
      每個(gè)ID# TML)編碼可多存儲(chǔ)4個(gè)注釋。
      注釋可存儲(chǔ)到一個(gè)ID#編碼上或存儲(chǔ)到一系列ID#編碼上。
      內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡。
      可以在內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡之間拷貝文件。
      標(biāo)準(zhǔn)USBRS-232通信。
      單晶和雙晶探頭設(shè)置的雙向傳輸。
      機(jī)載統(tǒng)計(jì)報(bào)告。
      機(jī)載DB柵格視圖,帶有3種可編程的顏色。
      • GageView接口程序通過(guò)USBRS-232端口與38DL PLUS測(cè)厚儀通信,可以讀取MicroSD存儲(chǔ)卡上的數(shù)據(jù),還可以在存儲(chǔ)卡上寫入信息。
      可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV(以逗號(hào)分隔值)格式直接導(dǎo)出到MicroSD存儲(chǔ)卡。

       

      機(jī)載DB柵格視圖,帶有3種可編程的顏色。

       

      GageView™

      基于WindowsGageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來(lái)自38DL PLUS測(cè)厚儀的數(shù)據(jù)。
      創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測(cè)量總結(jié)。
      編輯所存數(shù)據(jù)。
      顯示數(shù)據(jù)集和測(cè)量總結(jié)文件,文件包含厚度讀數(shù)、測(cè)厚儀設(shè)置值及探頭設(shè)置值。
      從測(cè)厚儀上下載厚度測(cè)量總結(jié),或上傳厚度測(cè)量總結(jié)至測(cè)厚儀。
      將測(cè)量總結(jié)導(dǎo)出到電子表格及其他程序。
      收集捕獲的屏幕。
      打印有關(guān)厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計(jì)及彩色柵格的報(bào)告。
      升級(jí)操作軟件。
      下載和上傳單晶和雙晶探頭設(shè)置文件。
      • B掃描回顧

      標(biāo)準(zhǔn)配置

      38DL PLUS數(shù)字式超聲測(cè)厚儀,交流電源或電池供電,50 Hz60 Hz。
      標(biāo)準(zhǔn)雙晶探頭套裝盒
      充電器/AC適配器(100 VAC、115 VAC、230 VAC
      內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器
      • GageView接口程序
      試塊和耦合劑
      • USB線纜
      橡膠保護(hù)套,帶有支架和頸掛帶
      用戶手冊(cè)

       

       

      希望以上信息能對(duì)您有幫助!

       

      上海遂歐儀器有限公司

       

       

       

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